Diffraction des rayons X sur poudre
La diffraction des rayons X permet l’analyse structurale des matériaux cristallins sous la forme de poudres et de couches minces. Il est possible notamment, de déterminer la phase cristalline, le paramètre de maille et la taille des domaines diffractant.
Cette technique, non destructive, permet la réutilisation de l’échantillon pour des synthèses ou analyses ultérieures.
Description de l’équipement :
- Diffractomètre Bruker D8 FOCUS (année 2007)
- Configuration Thêta/2Thêta / goniomètre 2 cercles
- Plage angulaire (degrés 2Thêta) : 2 – 168°
- Anticathode au cuivre (l =1.54 Å)
- Filtre Nickel pour rayonnement cuivre Kb
- Pas de monochromateur
- Détecteur compteur à scintillation
- Passeur d’échantillons automatisé
- Température ambiante
- Base de données JSCD
Les conditions d’analyse (temps, gamme angulaire…) sont déterminées en fonction de la nature de l’échantillon.
Applications :
- Matériau pulvérulent ou pouvant être broyé (50 mg minimum)
- Echantillon plan de 1 mm d’épaisseur maximale et de 1.2×1.2 cm² de côté sur substrat (couches minces) ou massif
Analyses complémentaires possibles :
- Absorption UV-visible
- Spectroscopie InfraRouge
- Traitement thermique (jusqu’à 1200°C)
Responsable : Anne Carton
Personnel technique : Hajer BEN HAMOUDA
